AFM 探针分辨率测试标样

PELCO® AFM 探针分辨率测试标样

PELCO® AFM Tip and Resolution Test Specimen

本产品用于检查尖端锐度（不是高度校准）; AFM尖端磨损，可能会损坏，导致显示效果出现偏差，特别是在纳米级。例如，磨损的尖端将使钴颗粒看起来长圆形而不是圆形。

胶体Co为AFM探针测定和仪器操作提供优良的基底。上图显示了标样上1nm（红色曲线）和3nm（绿色曲线）的高度校准结果。易得到低至埃级的探针分辨率，上图显示1nm和3nm高度分辨率准确至0.05nm。