全息阵列标样精细的间距分144nm和300nm两种，可在水平方向上对仪器进行高分辨、纳米尺度的校准。
144nm高分辨2D校准标样
适用AFM、STM、Auger、FIB、SEM
AFM 图像:
Tapping模式3µm AFM 扫描
Contact模式 5µm AFM 扫描
SEM图像
高倍
拍摄条件：100 kX，加速电压10 kV（内部小图）、20KV（外部大图）
中等倍数
5 kX时，单个圆体仍可清楚分辨。
SEM校准标样, 认证, 不可溯源, 含（或不含）样品台
AFM 校准标样, 认证, 不可溯源, 含样品台
SEM校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书，含（或不含）样品台
产品编号 | 描述 | 单位 |
16465-2D | 144nm校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书 | 个 |
300nm高分辨2D校准标样
适用AFM、STEM、Auger、FIB、SEM
产品代码 | 描述 | 单位 |
16475-2D | 300nm校准标样, 认证, 不可溯源 | 个 |
