碳圆片基底

碳圆片是SEM、电子探针X射线分析和背散射电子成像的理想基底。高纯度碳基底能提供优异的导电性能，低发射X射线背景，没有除碳以外的任何特征X射线峰。

碳圆片可以通过清洁后重复使用。对于精细粉末和成像观察，玻璃碳圆片是最佳选择。对于较大颗粒或样品的X射线观察，普通的碳圆片就足够的。 

玻璃碳圆片基底

玻璃碳是一种先进的纯碳材料，将玻璃和陶瓷的特性与石墨特性相结合。玻璃碳圆片中的一侧的表面是经过抛光。用于分析SEM / EDX，X射线分析和化学分析应用。高纯度玻璃碳圆片，杂质总量小于30ppm，气体和液体不可渗透，高纯度，耐腐蚀，在高达600°C的空气和真空或高达3,000°C的惰性气体中的热稳定性。良好的导电性，低热膨胀性和极强的抗热冲击性。硬度= 230 HV1。

碳圆片基底

1级光谱纯碳圆片基底，总杂质等于或小于2ppm，每个单元素为1ppm或更少。碳圆片其中一面试精细的磨削面，表面粗糙度为0.80μm。厚度均为1.6毫米（1/16英寸）。尺寸从10到32毫米直径，适合所有类型的SEM钉形和圆柱形样品台，直径从10到32mm不等。

高度抛光的碳圆片基底

高度抛光的碳圆片基底其中一面是非常光滑的，几乎镜面的表面，表面粗糙度为0.05至0.01um。用于碳圆片基底的材料是1级光谱纯碳（软石墨），其总杂质等于或小于2ppm，每种单一元素为1ppm或更少。抛光后的厚度为1.4至1.5毫米（0.55英寸至0.06英寸）厚。提供比较常见的的12.7mm和25.4mm直径两种尺寸。

厚度为 1.6 毫米的碳圆片安装在钉形样品台上安装在16709样品盒中。为 SEM/EDS 微量分析或低发射表面反向散射成像应用提供耐用且经济的解决方案。碳圆片表面粗糙度为0.05-0.01um，材质为光谱纯碳，总杂质小于2ppm。提供三种规格12.7、18 和 25.4mm钉形样品台。内含 10 个 12.7mm 和 8 个 18mm 或 8个25.4mm 钉形样品台。