mage Analysis Standard (Reference Stage Graticule)
为校准图像分析系统、识别光学成像系统中的偏差及变形提供4个高精密测试区。标样可用作高精密度千分尺,附有单独的证书与使用建议。标样被置于75mm x 25mm的载片上,其中方格的准确度为±0.1µm,圆点准确度为±0.3µm(root-2阵列上最小和最大的圆点除外,其准确度为±0.5µm)。
4个测试区分别为:
400µm x 400µm被分成200、100、50、25µm的方格,可以用于检测总体图像变形,亦可用作准确的二维样品千分尺;
直径15µm的圆点阵列(20 x 17)可用于识别透镜变形,设定视场以消除边缘失真;
root-2阵列上的点直径为3µm至48µm,用于测定相机及显微镜系统的阈值水平;
直径在4.5µm至 27µm之间呈对数正态分布的100个点阵列可以用于测定平均值与标准偏差,并与标称值作比较。
提供NPL校准证书
产品编号 | 描述 | 单位 |
2280-26N | 图像分析标样 | 个 |