在AFM工作中，AFM探针的选择极为重要。BudgetSensors AFM探针能满足当今纳米科技研究中的高标准要求。它们由AFM专家设计，融合了最新的AFM针尖/悬臂技术，由单片硅所制，适合大多数商业品牌的AFM（DI nanoscope、PSI、JEOL、NT-MDT、Asylum、Park、 Agilent、VEECO、WiTec等），在性价比、尖锐度、对称性、一致性方面优于目前市场上的任何其它AFM探针。
硅材料AFM 探针包括：
Tap300 系列， tapping模式
Tap150G系列，soft tapping 模式
Tap190G 系列，长悬臂，tapping 模式 (适用于Quesant AFM系统)
Multi75系列，force modulation模式
Contact 系列， contact模式和pulse force模式
Magnetic AFM Probe，是MFM应用的理想选择
All-In-One 系列，带有四个悬臂
AFM探针包含以下部分或所有高质量镀膜层（与不同探针系列有关）
Al - 悬臂上的铝膜层，用于提高反射率
Electri – Cr/Pt 导电膜，用于Electric模式
GD - 悬臂局部的金膜层，用于特定应用（如液体）中以提高反射率
GB - 悬臂整体金膜层，使探针成为一个电极
M – 磁性镀膜层
DLC -悬臂尖端为钻石状镀膜层，用于Tapping， Force Modulation以及Contact 模式。膜层坚硬，耐用性好，可减少尖部磨损提高探针寿命，且膜厚小，针尖半径小于15nm。DLC镀层不导电。所有镀DLC的AFM探针在悬臂的背部以及holder chip的校准槽都具有铝反射层。
技术参数
AFM Holder Chip
工业标准尺寸，适合大多数商业化AFM。 | AFM Cantilever
悬臂为微加工单硅片，一致性极佳，可为标准AFM提供高质量的成像效果。 | AFM Tip
AFM针尖为微加工单硅片，具有优异的一致性，针尖尖锐，半径小于10nm，分辨率高、重现性好 |
AFM探针检测样品 AFM观察样品时，有必要了解AFM探针的状态，因为这直接影响到图像质量与准确度。TipChecker为SPM样品，用于快速有效检测AFM探针状态。 |
产品编号 | 描述 | 单位 |
TC1 | BudgetSensors AFM探针检测样品 | 个 |
黄小姐（设备）