Ted Pella PELCO STEM样品台

PELCO ®STEM 样品台通过在 SEM 室中使用标准 Everhart-Thornley SE 探测器，在 SEM 中实现 STEM 成像。带防散射套管的总高度为 37.5 mm，不带防散射套管的总高度为 29.2 mm。

使用 PELCO ^® STEM 样品台在 FEI XL30 FEG-SEM 上的微栅碳支持膜的 STEM 图像