Ted Pella Q钉形缺口样品台18mm

PELCO® Q 样品台特别设计用于相关显微镜，证实性SEM研究和重复性SEM成像/分析和样品制备。PELCO®Q样品台有一个容易定位的90度参考缺口。使用SEM X和Y平台的运动和读数，PELCO® Q存根上的每个位置都可以很容易地被索引到参考缺口上。一旦参照参考缺口记录了一个位置，就可以使用同一台SEM、另一台SEM或FIB系统、X射线成像系统、Auger系统、SIMS、光学显微镜或任何具有X和Y平台运动的成像系统轻松找到该位置。只要有位置读出，它就能与手动、电动和计算机化的平台一起工作。根据平台的精度，记录的位置可以以±5µm的精度被检索出来。PELCO® Q样品台上的参考缺口实现了内在的索引--不需要额外的支架，位置都是相对于存根上的缺口。

在这个圆形Q钉形样品台中，90°缺口可作为SEM的原点参考点。是低倍率相关成像的理想选择。