Ted Pella NiOx透射电镜标样

NiOx 测试样品是为配备 X 射线微分析系统 (EDX) 和/或电子能量损失光谱仪 (EELS) 的高级分析 TEM 开发的，用于表征仪器性能。它由 200 目 Mo TEM 网格上的 25nm 碳支撑膜上的 55nm NiOx 膜组成。NiOx 测试样品至少在三个方面具有价值：

1. 在购买前评估 TEM 和 EDX 系统时。

2. 安装 EDX 检测器后，立即检查色谱柱条件和检测器对齐是否令人满意。

3. 在系统运行期间定期检查检测器上是否存在结冰或碳氢化合物污染。

测试样品提供 Mo 信号以测量 TEM 柱中存在的杂散 X 射线和电子。NiOx 薄膜含有已知量的轻元素（氧），用于评估 EDX 探测器对低能 X 射线的响应。在 EELS 中，氧和镍电离边缘允许执行能量轴校准和元素比测量。对于配备这两种系统的 TEM，可以直接比较 EDX 和 EELS 获得的元素分析。