PELCO X-CHECKER®是一款校准辅助工具，可帮助您监测扫描电子显微镜上EDS（能谱分析仪）X射线系统的性能。PELCO X-CHECKER® 包含一系列标准材料，可根据您选择的铝制支架进行安装。使用PELCO X-CHECKER®，您可以检查并校准探测器的分辨率，测试探测器窗口上的污染，监测低端灵敏度，并对图像分析软件进行校准。
602-01包含：
锰，用于测量探测器分辨率的半高全宽（FWHM）
铝和铜，用于光谱校准
碳，用于薄窗探测器光谱的低端校准
TEM镍网，尺寸为40 x 40µm和18 x 18µm，精度为±5%，用于图像分析软件的校准。它们还便于轻松测试监测探测器窗口上的真空泵油污染量。
包含使用说明书和存储盒。
产品编号 描述 单位 602-01 PELCO X-CHECKER®：Mn、Cu、C、400 和 1000 目镍网，不包含样品座 个
PELCO X-CHECKER® B
在PELCO X-CHECKER的基础上添加了将硼化氮样品， #602-02中，可以更敏感地监测薄窗和无窗探测器的低端性能。
产品编号 描述 单位 602-02 PELCO X-CHECKER®B：Mn、Cu、C、BN、400 目镍网，不包含样品座 个
PELCO X-CHECKER® EXTRA
与#602-03有相同的元素，另外还有一种氟源，采用PTFE形式，用于测试氟的Kα峰处的分辨率（用于测量低端分辨率的行业标准）。此外，还添加了一块铍制fib载网，用于终极测试低端探测器性能。
产品编号 描述 单位 602-03 PELCO X-CHECKER® EXTRA：Mn、Cu、C、BN、F、400 目镍栅和 Be fib载网，未安装 个
可选的样品座。
| 类型 | 货号 | （D=直径；P=钉腿直径；PL=钉腿（长度） | |
| A | 16111 |  | 钉形样品台：D=12.7mm；P=3.2mm；PL= 7.9mm, FEI/Philips, Cambridge, Leica, TESCAN, CAMSCAN, ASPEX, Phenom |
| B | 16261 |  | 钉形样品台：D=12.7mm；P=3.2mm；PL=14.3mm, AMRAY |
| C | 16221 |  | 直径 9.5 毫米 x 9.5mm 圆柱形，JEOL |
| D | 16281 |  | 直径 15 毫米 x 15mm 圆柱形，JEOL，ISI/ABT/TOPCON |
| E | 16291 |  | 直径 15 毫米 x 10mm 圆柱形，JEOL，ISI/ABT/TOPCON |
| F | 16111-9 |  | 钉形样品台：12.7mm x 3.2mm 钉腿。PL=6mm, ZEISS/LEO SEMS FESEMs/FIBS |
| K | 16324 |  | 直径 15 毫米 x 6mm 圆柱，M4 Hitachi，Agilent / Keysight |
| L | 16327 |  | 直径 25 毫米 x 6mm 圆柱，M4 Hitachi，Agilent / Keysight |
| M | 16231 |  | 直径 12.2 毫米 x 10mm 圆柱，Hitachi |
| O | 16115 |  | 直径 31.7 毫米 x 6.47 毫米，Cambridge S4 支架 |
| P | 16242 |  | 钉形样品台：直径 12.7 毫米x 15.7mm 高度，AMRAY 专用开槽头 |
| Q | 16153 |  | 直径 25 毫米 x 10mm 圆柱，JEOL |
| R | 16144 |  | 钉形样品台：D=25.4mm；pin=3.2mm, FEI/Philips, Cambridge, Leica, TESCAN, CAMSCAN, ASPEX, Phenom |
