高倍高分辨全息光栅标样
High Magnification, High Resolution Reference and Calibration Standards for AFM, SEM, Auger and FIB
适用AFM、SEM、Auger和 FIB
精确全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器,具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分145 、292nm三种。
产品代码 | 描述 | 单位 |
642-1AFM | 145nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上 | 个 |
642-1 | 145nm高分辨 AFM校准标样,不含样品台 | 个 |
643-1AFM | 292nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上 | 个 |
643-11AFM | 292nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上,可溯源 | 个 |