用于静电力显微镜(EFM)和开尔文探针显微镜(KPFM)模式的测试和校准标准。样品由沉积在氧化物覆盖的硅上的铝和金线阵列组成。细铜线连接到铝和金的接触点上,允许在这些线之间施加指定的电场。
具有 8、20 和 40 微米间距的线阵列
线高约为 35 纳米
带底座版本:安装在 15 毫米玻璃上的标准 15 毫米 AFM 圆片上,两侧的铜线连接到铝和金的焊点上
无底座版本:仅为芯片,无基底和铜线连接
时间:2024-06-04
型号:629
品牌:tedpella
价格:面议
用于静电力显微镜(EFM)和开尔文探针显微镜(KPFM)模式的测试和校准标准。样品由沉积在氧化物覆盖的硅上的铝和金线阵列组成。细铜线连接到铝和金的接触点上,允许在这些线之间施加指定的电场。
具有 8、20 和 40 微米间距的线阵列
线高约为 35 纳米
带底座版本:安装在 15 毫米玻璃上的标准 15 毫米 AFM 圆片上,两侧的铜线连接到铝和金的焊点上
无底座版本:仅为芯片,无基底和铜线连接
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