KPFM-EFM 静电力和开尔文探针力显微镜标样

用于静电力显微镜（EFM）和开尔文探针显微镜（KPFM）模式的测试和校准标准。样品由沉积在氧化物覆盖的硅上的铝和金线阵列组成。细铜线连接到铝和金的接触点上，允许在这些线之间施加指定的电场。

• 具有 8、20 和 40 微米间距的线阵列

• 线高约为 35 纳米

• 带底座版本：安装在 15 毫米玻璃上的标准 15 毫米 AFM 圆片上，两侧的铜线连接到铝和金的焊点上

• 无底座版本：仅为芯片，无基底和铜线连接