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校准标样

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Pelcotec线宽标样CDMS 特征尺寸放大标样

时间:2023-02-24

型号:CDMS

品牌:Ted Pella

价格:面议

Pelcotec™ CDMS 校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样,可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成,可以覆盖广泛的测量范围。

Pelcotec™ CDMS 校准标样是在超平硅基底上沉积制造的,对 5 微米以下的特征进行了 50 纳米铬的精确沉积,对 2 微米至 100 纳米的特征进行了 50 纳米金和 20 纳米铬的组合沉积。硅基上的铬和金/铬在 SE 和 BSE 成像模式下都能提供出色的对比度。与蚀刻硅标准相比,特征更容易确定。由于硅基底、铬和铬/金特征都是导电的,因此该标样不存在充电问题。CDMS 标样结构坚固,可使用低功率等离子清洗器进行清洗。

CDMS-2

Pelcotec™ CDMS 校准标样有两种特征尺寸范围,分别是 Pelcotec™ CDMS-1T 和 Pelcotec™ CDMS-0.1T,都提供可追溯和认证标样,共有4个种:

Pelcotec™ CDMS-1T: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。

CDMS-L


产品编号描述单位
682-1Pelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可追溯,没有样品台,金属沉积线
699-1Pelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可追溯,没有样品台,硅蚀刻线
682-1APelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台A
682-1BPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台 B
682-1CPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台C
682-1DPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台D
682-1EPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台E
682-1FPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台F
682-1KPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台K
682-1LPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台L
682-1MPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台M
682-1OPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台O
682-1PPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台P
682-1QPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台Q
682-1RPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,样品台R
682-1AFMPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,12mm AFM圆片
682-1SPelcotec™ CDMS-1T,2mm - 1µm,可溯源,25 x 75mm 载玻片

Pelcotec™ CDMS-1C: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。

产品编号描述单位
686-1Pelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经过认证,没有样品台,金属沉积线
703-1Pelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台A ,硅蚀刻线
686-1APelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台A 
686-1BPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经过认证,样品台B 
686-1CPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经过认证,样品台C 
686-1DPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台D
686-1EPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台E
686-1FPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经过认证,样品台F
686-1KPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台K
686-1LPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经过认证,样品台L 
686-1MPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台M
686-1OPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台 O
686-1PPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台P
686-1QPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经过认证,样品台Q
686-1RPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,样品台 R
686-1AFM Pelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,12mm AFM 圆片
686-1SPelcotec™ CDMS-1C,2mm - 1µm,经认证,25 x 75mm 载玻片


Pelcotec™ CDMS-0.1T: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。

CDMS-H

产品编号描述单位
683-01Pelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台,金属沉积线
700-01Pelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台,硅蚀刻线
683-01APelcotec™ CDMS-0.1T,   2mm - 100nm, 可溯源, 样品台A
683-01BPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台B
683-01CPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台C
683-01DPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台D
683-01EPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台E
683-01FPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台F
683-01KPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台K
683-01LPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台L
683-01MPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台M
683-01OPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台 O
683-01PPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台P
683-01QPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台Q
683-01RPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,样品台R
683-01AFMPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,12mm AFM 圆片
683-01SPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可溯源,25 x 75mm 载玻片

 

Pelcotec™ CDMS-0.1C: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。

产品编号描述单位
687-01Pelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,没有样品台,金属沉积线
704-01Pelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,没有样品台,硅蚀刻线
687-01APelcotec™ CDMS-0.1T,   2mm - 100nm, 经认证, 样品台A
687-01BPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台B
687-01CPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台C
687-01DPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台D
687-01EPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台E
687-01FPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台F
687-01KPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台K
687-01LPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台L
687-01MPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台M
687-01OPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台 O
687-01PPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台P
687-01QPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台Q
687-01RPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,样品台R
687-01AFMPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,12mm AFM 圆片
687-01SPelcotec™ CDMS-0.1T,2mm - 100nm,经认证,25 x 75mm 载玻片

 

Pelcotec™ CDMS 标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µm、5µm、2µm和1µm(适用于 Pelcotec™ CDMS-1T 和 Pelcotec™ CDMS-1C)。而Pelcotec™ CDMS-0.1T 和 0.1C 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µm、5µm、2µm、1µm、500nm、250nm和100nm。

Pelcotec™ CDMS 标样采用超平整的硅衬底制成,采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µm的部分,而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µm到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度,比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性,因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构,CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。

较小的特征尺寸被嵌套在一起,以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm,厚度为525µm ±10µm,在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec™ CDMS校准标样都有一个独特的识别编号。

Pelcotec™ CDMS校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用,Pelcotec™ CDMS安装在12mm的AFM圆片上,而对于LM应用,则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。

类型货号
(D=直径;P=钉腿直径;PL=钉腿(长度)
A16111mount1钉形样品台:D=12.7mm;P=3.2mm;PL= 7.9mm, FEI/Philips, Cambridge, Leica, TESCAN, CAMSCAN, ASPEX, Phenom
B16261mount2钉形样品台:D=12.7mm;P=3.2mm;PL=14.3mm, AMRAY
C16221mount3直径 9.5 毫米 x 9.5mm 圆柱形,JEOL
D16281mount4直径 15 毫米 x 15mm 圆柱形,JEOL,ISI/ABT/TOPCON
E16291mount5直径 15 毫米 x 10mm 圆柱形,JEOL,ISI/ABT/TOPCON
F16111-9mount1钉形样品台:12.7mm x 3.2mm 钉腿。PL=6mm, ZEISS/LEO SEMS FESEMs/FIBS
K16324mount7直径 15 毫米 x 6mm 圆柱,M4 Hitachi,Agilent / Keysight
L16327mount8直径 25 毫米 x 6mm 圆柱,M4 Hitachi,Agilent / Keysight
M16231mount9直径 12.2 毫米 x 10mm 圆柱,Hitachi
O16115mounto直径 31.7 毫米 x 6.47 毫米,Cambridge S4 支架
P16242mount10钉形样品台:直径 12.7 毫米x 15.7mm 高度,AMRAY 专用开槽头
Q1615316153g直径 25 毫米 x 10mm 圆柱,JEOL
R16144mountR钉形样品台:D=25.4mm;pin=3.2mm, FEI/Philips, Cambridge, Leica, TESCAN, CAMSCAN, ASPEX, Phenom

Pelcotec™ CDMS-1Pelcotec™ CDMS-0.1
基底:硅
基底尺寸:2.5×2.5mm
基底厚度:525±10μm
唯一序列识别号
2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块
垂直于 X 轴的刻度线,间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm
仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出
特征材料:50nm Cr (2mm - 5µm)
特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)
特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)
可在晶圆级追溯到 NISTT 版本T 版本
CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证C版本C版本
不含样品台
可安装在 SEM样品台上
精度优于0.3%


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